SENTECH FTPadv 反射膜厚仪 高精度和高重复性测量 可进行连续测量

FTPadv主要用于测量薄膜厚度和光学折射率的测量。

主要特性: 

1，包含厂家预设的和用户自定义的广泛的应用数据库，可直接使用 

2，广泛的材料数据库，来源于SENTECH光谱椭偏仪分析数据 

3，可测量半导体上的电介质膜，半导体上的半导体薄膜，硅上的聚合物膜，透明基底上的薄膜和金属基底上的薄膜 

更多特性:

1，测量透明膜和弱吸收膜的厚度和折射率 

2，菜单驱动软件，操作简易 

3，全光谱测量时间小于 300 ms 

4，32位软件，基于WinNT, Win2000, WinXP等操作系统 

5，可进行连续测量 

6，高精度和高重复性测量，膜厚范围从50nm至20000nm 

7，可预先定义应用程序，操作简易 

8，多层膜中的*膜层能够被测量? 

9，统计分析，测量数据和对样品的操作都在protocol中显示，数据 能够被保存和打印 

Mapping选项，包括计算机控制扫描样品台和分析软件