SENTECH高精度UV-VIS-NIR反射膜厚仪RM2000 高精度测量反射光谱

SENTECH RM 1000反射仪能够在UV-VIS-NIR光谱范围对单层膜、多层膜和基底材料进行高精度反射光谱测量。可对吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析薄膜厚度和折射率. 

特性: 

高精度测量反射光谱, 非接触、正入射测量 

宽光谱范围，UV-NIR

可测量反射率R, 薄膜厚度， 折射率 

FTP expert分析软件，用于测量薄膜光学常数。 

测量半导体膜的材料组分（例如： AlGaN on GaN) 

分析外延生长多层膜

选项: 

深紫外扩展 (200 nm) 

近红外扩展 (1700 nm) 

x-y 地貌图扫描样品台和扫描软件

摄像头选项，用于观测样品表面

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